Физический факультет ННГУ
Вход Регистрация Карта сайта Форум
Модификация атомно-силовой микроскопии для изучения электрических свойств кристаллов и пленок. Обзор
К. Л. Сорокина, А. Л. Толстихина 10.06.2011 10:19:26   Просмотров›2097
Зондовая силовая микроскопия становится все более популярной методикой изучения поверхности конденсированных сред и стандартным средством контроля растущих кристаллов и пленок, входящим в оснащение технологических установок. Возможности по регистрации различных характеристик объектов непрерывно расширяются благодаря новым вариантам метода. Важная роль среди последних принадлежит "электрической" силовой микроскопии, различные способы реализации которой рассмотрены в настоящей статье как в методическом плане, так и в плане сферы ее применения и конкретных результатов, получаемых с ее помощью.

КРИСТАЛЛОГРАФИЯ, 2004, том 49, №3, с. 541-565
Поверхностные электромагнитные волны в оптике
М.Н. Либенсон 10.06.2011 10:09:52   Просмотров›2780
Зассмотрены применение поверхностных электромагнитных волн оптического диапазона, или поверхностных полёритонов, длё высокоточных измерений в металлооптике и микроскопии сверхвысокого разрешениё, а также физические процессы, в которых они играют определёющую роль.

М.Н. Либенсон Поверхностные электромагнитные волны в оптике // Соросовский образовательный журнал, №11, 1996, с.103-110
Основы сканирующей зондовой микроскопии
В.Л.Миронов 20.02.2007 16:51:01   Просмотров›9856
Учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений
Издательство: ИФМ РАН, Нижний Новгород, 2004
Руководство пользователя
20.02.2007 16:47:04   Просмотров›5063
Руководство пользователя сканирующего зондового микроскопа Nanoeducator
Описание лабораторных работ
20.02.2007 16:44:54   Просмотров›5361
Описание лабораторных работ, выполняемых студентами физического факультета по сканирующей зондовой микросокпии
Исследование оптических свойств поверхности твердых тел методом ближнепольной сканирующей оптической
Филатов Д.О., Круглов А.В., Левичев В.В. 03.11.2006 15:33:41   Просмотров›4513
Описание лабораторной работы
Исследование топографии поверхностных твердых тел методом атомно-силовой микроскопии в неконтактном
Филатов Д.О., Круглов А.В., Гущина Ю.Ю. 03.11.2006 15:32:01   Просмотров›4699
Описание лабораторной работы
Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей туннельной микроскопии (СТМ)
Д.О. Филатов, А.В. Круглов 03.11.2006 15:28:12   Просмотров›4579
Описание лабораторной работы
 
603950, Нижний Новгород, пр. Гагарина, 23, корп.3,
тел. (831) 462-33-02. e-mail: dekanat@phys.unn.ru

Яндекс цитирования Rambler's Top100